GWST-1000型高温四探针综合测试系统:HTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪

更新时间：2024-09-22 14:36:31

GWST-1000型高温四探针综合测试系统

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型号：
品牌：
GWST-1000型高温四探针综合测试系统（包含薄膜，块体功能）
关键词：四探针，电

GWST-1000型高温四探针综合测试系统（包含薄膜，块体功能）是为了更方便的研究在高温条件下的半导体的导电性能，该系统可以完全实现在高温、真空及惰性气氛条件下测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率和外延层、扩散层和离子层的方块电阻及测量其他方块电阻。该系统广泛应用于高等院校和科研院所，是科研的重要设备。
二、符合：
1、符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、
2、符合GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》
3、符合美国 A.S.T.M 标准
二、产品应用：
1、测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；
2、可测柔性材料导电薄膜电阻率/方阻
3、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）电阻率/方阻
4、纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻
5、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量
6、可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻
三、主要技术参数
温度范围：RT-1000℃
升温斜率：0-10℃/min (典型值：3℃/min)
控温精度：±0.1℃
电阻测量范围：0.1mΩ~1MΩ
电阻率测量范围：100nΩ..cm~100KΩ .cm
测量环境：惰性气氛、还原气氛、真空气氛
测量方法：四线电阻法，探针法
测试通道：单通道或是双通道
样品尺寸：10mmx10mmX20mm或φ＜20mm ,d＜5mm
电极材料：铂铱合金电极（耐高温，抗氧化）
绝缘材料：99氧化铝陶瓷
数据存储格式：自动分析数据，可以分类保存，样品和测量方案结合在一起，生成系统所需的实验方案，输出TXT、XLS、BMP等格式文件
数据传输：USB
符合标准：ASTM
供电：220V±10%，50Hz
工作温度：5℃ 至 + 40 ℃；
工作湿度：+40 ℃ 时，相对湿度高达 95%（无冷凝）
设备尺寸： L360mm*W370mm*H510mm
重量：22kgHTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪HTRS-1000高温半导体材料电阻率测试仪 CNC-100型仿型制样机膨化食品颗粒包装机翊锋供台湾石头烤肠的机器｜阿里山烤香肠的炉子用石头烤肠的炉子｜圆形烤肠的机器

HTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪

型号：
品牌：
HTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪
关键词：电阻率，导电，合金高温

电阻率表征技术是最典型的金属、合金相变行为研究手段，比如在先进钢中的碳运动行为分析、或是合金析出动力学研究、以及形状记忆合金的预相变行为表征的方面。电阻率对这些相变行为则非常敏感，应用电阻率手段研究合金析出动力学行为也是非常重要的手段，是W一可以对合金时效析出过程全时段实现监控的手段。同时，通过电阻率的演化规律，可以清晰的判断GP区、析出孕育时间、析出结束（析出量最大）和熟化过程等不同的阶段。对于所有析出强化合金，电阻率数据都可以提供重要的工艺指导。此外，预相变过程中出现纳米畴并导致模量软化和弛豫内耗行为，特别是在相变初期，用电镜观察很难实现，而纳米畴的出现却表现为电阻率的升高，因此通过电阻率演化可以清晰的表征纳米畴出现的温度和畴面积的演化过程。
HTRT-1000本系统主要由高精度高稳定度的小电流源、高精度AD采样芯片以及嵌入式芯片，上位机智能管理分析软件、真空多段温控加热设备组成的金属电阻率智能存储分析仪器。测试金属样品根据测试工艺要求任意设定加热、降温曲线，通过过程中电阻率的精密测量，完成对金属内部结构变化如相变、碳化物、固溶度等特性的分析。
一、用途：
1、棒材、管材、异型材金属导电性能测量
2、金属材料研究
3、碳系导电材料的电阻率和电导率测量
4、金属氧化物系导电材料的电阻率和电导率测量
5、石墨烯金属材料的导电性能测试
二、器成套组成：
1.温度控制箱：任意设定多段加热、保温曲线，加热范围:室温至1000℃。控温精度±1oC。
2.真空加热炉管：采用石英真空管实现真空密闭状态，达到6*10-2Pa。
3.控制信号盒：高精度的恒流源200uA-10mA,通过计算机通信控制实现连续可调（或定制），测量精确到1uΩ。
4.计算机：通信控制温控仪加热曲线，实时接收当前温度值并存储显示。结合温度值显示电阻率-温度曲线。同时存储过程的测试条件信息，测试过程的数据。完成数据库的基本管理、查询、打印等功能。
5. 低温装置：低温实验可延伸-150℃，完成高低温实验功能。
6. app远程监控：手机app完成对实验设备主要参数的监控，不必守在炉子旁边也能了解实验目前的状态。
7.适用于科研单位、高等院校对金属材料的导电性能、微结构变化、相变信息等测试。
三、基本技术参数
1、控温范围；-150 ℃-1000 ℃，精度：-150 ℃-1000 ℃，精度±1 ℃
2、测量范围：电  阻：1×10-6～1×10-1 Ω   ，分辨率：1×10-7Ω
电阻率：1×10-7～1×10-2 Ω-mm，分辨率：1×10-8
3、材料尺寸：200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm
4、四线探针；0.5 mm-0.7mm
5、夹具：针对不同的样品可以设计不同的夹具
6、外形尺寸：主   机  1300mm（长）×800 mm（宽）×500mm（高）
7、净   重：≤60kg