GDJD-600型高、低温介电性能测量系统:BMDZ-4型PVDF薄膜电阻测试仪

更新时间：2024-09-22 16:48:16

GDJD-600型高、低温介电性能测量系统

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GDJD-600型高低温介电性能测量系统（四通道测试，同时测试4个样品）
关键词：高低温介电测量仪，高、低温介电测量系统，

产品介绍：
GDJD-600型高温介电性能测量系统主要应用于高低温下材料的介电性能测试与分析，包括介电常数、介电损耗、电容等参数，同时测试出测试材料的其他阻抗参数，广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。
一、产品优势:
1.实现室温-140°C-800°C的低高温介电转换测量
2.四通道测试,可以同时测试1-4个样品，方便快捷
3.数据分析软件:提供多种扫描曲线,可以在多窗口之间切换数据
二、《符合ASTMD150和 D2149-97国际标准>>
<<符合GB/T1409-2006介电常数和介电损耗的推荐方法;》
三、产品特点
1.可以在低高温、宽频、真空条件下测量固体、薄膜样品的介电性能；
2.可以分样品的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、时间谱等测量功能;
3.可以测量样品的介电常数、介电损耗，电容C，损耗D，电感L，品质因数Q，阻抗Z等物理量;以实现介电常数和介电损耗随多个温度、多个频率变化的曲线，时间和电压变化的曲线；
4、可提供块体，薄膜，单样品，四样品夹具，满足不同测试要求。
主要技术指标：
测量温度： -160°C-800°C 升温斜率：2°C /min
频率范围：20-30MHZ 精度：0.05%
测量精度： ±0.1°C 控温精度：±1°C（PID精准控温）
高温样品杆：耐高温、1000°C不氧化，电极阻抗低、绝缘好测试方法：两线法或四线法
测试通道数：1-4通道一次可测样品数：1-4个样品
样品尺寸：直径小于2-10mm，厚度小于1-10mm，样品放置位置灵活，可快捷安装和拆卸测量精度：0.05%
AC电平： 0V 到 1V rms 直流偏压：0到±40V/100mA
数据存储：EXCEL表格等多种格式加热方式：电阻丝加热
真空度范围：100 Pa-1大气压电极材料：铂金
数据传输：4个USB接口仪器通讯：USB或GPIB
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BMDZ-4型PVDF薄膜电阻测试仪

型号：
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BMDZ-4型PVDF薄膜电阻测试仪
关键词：PVDF，薄膜，电阻，表面电阻，体电阻

BMDZ-4型PVDF薄膜电阻测试仪是运用环形三电极法原理测量固体片状、薄膜状或液体类导静电材料、绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的多用途综合测量装置，也可作为超高阻计或微电流测试仪使用。不仅可测试薄膜体电阻，而且可以测试薄膜的表面电阻，是压电材料薄膜测试参数的重要设备,是国内高校研究PVDF薄膜材料的重要设备，也是材料学院的重要研究设备之一。

一、符合国家标准:
GB/T 3389-2008 压电陶瓷材料性能测试方法
GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》。二、产品用途：
1、PVDF薄膜材料表面电阻及体电阻
2、压电陶瓷材料表面电阻及体电阻
3、PVDF薄膜材料表面的微电流测试

三、主要特点：
1、数字化操作，参数自由设定、功能转换全部采用数字化键盘输出，操作简便、性能稳定。
2、自动化测试过程，电压、电流量程转换，全部数字化转换。
3、多窗口显示体积电阻率、表面电阻测试结果，电压、测试电流测试条件，以及设定修正系数，内容全面。
4、测试安全保护，测试高压独立操作开关，测试电流过流保护。
5、便于功能拓展，选配薄膜测试探头，可以测试高阻薄膜，选配夹具可以当高阻计和微电流表使用。也可测试高阻液态电阻率。
三、测量范围
电阻范围： 1.0×10^2～ 2.0×10^14 Ω,
分辨率0.01×10^3～ 0.01×10^14 Ω
电阻率范围： Kv×( 1.0×10^2～ 2.0×10^14) Ω-cm,
分辨率0.01×10^3～ 0.01×10^14 Ω-m， K=1～1000，修正系数）
精度：±0.01
选配：可以配合ZJ-3/6型PVDF压电测试仪进行薄膜D33系数测试
工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤20W
外形尺寸： W×H×L=40cm×15cm×35cm
重量：≤4kg